
型 号:PSEL Laue_V_674_AC_GigE
制 造 商:Photonic Science
存 放 地 点:哲生堂209
主要功能及特色
单晶快速定向与制样支撑:用于单晶切割、抛光及大型装置实验样品制备等关键环节,实现晶体取向的快速判定与精确标定。
自动化高分辨采集与分析:集成样品装载、劳厄衍射图谱采集与独立报告生成的全自动流程,并通过自动峰标定提升定向效率与一致性
高亮度束源与大面探测:配备高分辨率高灵敏X射线CCD与大有效探测面积,在无需水冷机条件下提供约450 μm光斑的高亮度X射线束,适配晶圆面扫、小批量毫米级样品及浮区炉样品等多场景测试。
主要技术指标
单晶定向模块
设备基本信息
X射线能量:5-29 keV,X光管电压最高可达50kV@0.5mA; 具有高精度电动位移台,可供样品移动,旋转和倾斜,垂直于束流方向两个旋转轴,转动范围分别不低于±10°和±7°;劳厄相机的总像素数:2563*1707; 支持二维晶向mapping;曝光时间:最小≤1 ms,最大≥1分钟;具有安全互锁装置。基本配件
配备X射线源,探测器,电机驱动平台相关的夹具,托架以及锁紧装置。测试分析软件
运行在Windows 环境下仪器控制和分析软件PSViewer软件,可以进行了单晶质量判断、二维Mapping,晶体定向等功能。
主要附件及配置
背散射式X射线CCD探测器。
X射线光源。
电动高精度样品台和多个夹具。
软件和控制系统:搭配不小于22英寸显示器,不小于240GB硬盘,不小于8GB内存, 配备Win10 64位操作系统。
用户须知
需经过培训获得操作资格后才能使用,或由已培训的人员代为测试。


