台式X射线衍射仪

Benchtop Powder X-ray Diffraction (XRD) Instrument

稿件来源：广东省磁电物性分析与器件重点实验室 编辑：办公室 发布日期：2026-02-06
 
 

 

 

 

 

 

 

 

型          号：MiniFlex 600

制   造   商：Rigaku Corporation

存 放 地 点：哲生堂209

 

主要功能及特色

  1. 多用途粉末衍射分析：支持物相鉴定/定量、结晶度评估、晶粒尺寸与微应变分析、晶格参数精修及里特沃德结构精修等粉末XRD核心功能。

  2. 高效稳定的测试性能：配备最高600W X射线光源，兼顾测试效率与数据质量，适用于常规到高要求的粉末衍射测量。

  3. 面向科研与质控应用：结合SmartLab Studio II分析软件，可为材料与化学研究、工业研发及质量监控提供标准化、可追溯的衍射数据与解析结果。

 

主要技术指标

   粉末衍射测量模块

  1. 设备基本信息
    X-射线波长：CuKa；发生器最大输出功率：600W；输出电压：20-40kV；输出电流：2-15mA；X-射线最小焦斑尺寸：0.4 x 8mm^2；测角仪扫描方式：θ-2θ联动；测角仪可动范围：-3°～145°；测角仪角度最小步进：0.0025°；测角仪半径：150 mm；

  2. 基本配件
    常量粉末样品架：20只；微量粉末样品架：20只；中空块体样品架：20只；无背底样品架：2只；超大块体样品架，最大尺寸不小于100mm（L）*50mm（W）*30mm（H）：1只；气体密封样品架，1只；透射样品架，1只；

  3. 测试分析软件
    运行在Windows 环境下仪器控制和分析软件SmartLab Studio II，分析功能包含以下：物相检索定性分析；半定量分析；晶粒大小、结晶度分析；分析软件提供最新正版晶体数据库；

 

主要附件及配置

  1. 防辐射机柜（包含X-射线发生器与测角仪系统），1套；

  2. X-射线光管，1根； 

  3. 自动可调阻光散射系统，1个； 

  4. 一维硅阵列探测器，1个； 

  5. 控制及分析软件系统，1套； 

  6. 常量粉末样品架，20只； 

  7. 微量粉末样品架，20只； 

  8. 铝制中空块体样品架，20只。 

  9. 无背景单晶硅样品架，2只； 

  10. 超大样品支架，1只； 

  11. 气体密封样品架，1只； 

  12. 透射样品架，1只。

  13. 控制计算机一台，配置不低于：硬盘1TB，8倍速可刻录光驱，27英寸LCD显示器

 

用户须知

需经过培训获得操作资格后才能使用，或由已培训的人员代为测试。